AFM Spitzen
Zusammenfassung
Automatisch erstellt aus den VergabeunterlagenDas Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS (Chemnitz) beschafft 200 AFM-Spitzen des Typs RTESPA-300 (Bruker) als Verbrauchsmaterial für das Rasterkraftmikroskop Bruker InsightCAP AFM im Labor 320. Die Lieferung erfolgt nach Chemnitz, die genauen technischen Spezifikationen (Silizium-Material, Antimon-Dotierung, bestimmte Spitzen- und Cantilever-Geometrie, Aluminium-Beschichtung) sind verbindlich vorgeschrieben.
Zeitplan & Fristen
Aus den Vergabeunterlagen extrahiertZuschlagskriterien
Gewichtung laut Vergabeunterlagen- Preis
Angebotspreis (Wertungssumme). Niedrigster Preis erhält volle Punktzahl, doppelter Preis 0 Punkte, dazwischen lineare Interpolation. Optionen fließen in die preisliche Bewertung ein.
- Lieferzeit
Lieferzeit als metrisches Kriterium. Kürzeste Lieferzeit erhält volle Punktzahl, doppelte Lieferzeit 0 Punkte, dazwischen lineare Interpolation.
- Technische Ausführung der DL
Technische Ausführung des Produkts/der Dienstleistung. Bewertung anhand einer Punkteskala 0-100, wobei die relativ beste Lösung 100 Punkte erhält. Bewertung erfolgt über LV-Positionen (B = Bewertungskriterien, O = Optionen). Alle LV-Positionen sind als F (Forderungen) gekennzeichnet, d.h. sie müssen zwingend erfüllt werden.
Preis/Lieferzeit: Niedrigster Preis erhält 100 Punkte, fiktiver doppelter Preis erhält 0 Punkte, dazwischen lineare Interpolation. Technische Ausführung: Relativ beste Lösung erhält 100 Punkte, abgestuft nach Noten (100%=Note1, 80%=Note2, 60%=Note3, 40%=Note4, 20%=Note5, 0%=Ausschluss). Gesamtwertung = Summe der gewichteten Punkte je Zuschlagskriterium.
Leistungsumfang
Aus den VergabeunterlagenProdukt und Zweck
Beschafft werden AFM-Spitzen des Typs RTESPA‑300 des Herstellers Bruker.
Technische Spezifikationen (Pflichtangaben)
Alle Positionen sind verpflichtende Mindestanforderungen; eine Nichterfüllung führt zum Angebotsausschluss.
Spitze
Cantilever
Beschichtung
Chip
Lieferung und Logistik
Eignungskriterien
Geforderte Nachweise laut VergabeunterlagenVorzulegende Eignungsnachweise
Mit dem Angebot ist das vorgegebene Formular PR1197946_EligibilityCriteria_Eignungskriterien einzureichen. Zusätzlich ist eine Eigenerklärung zum Nichtvorliegen von Ausschlussgründen (Datei C_Selfdeclaration (123-124 GWB).pdf) im Original unterschrieben beizufügen.
Alternativ kann anstelle der Eigenerklärung die Einheitliche Europäische Eigenerklärung (EEE) vorgelegt werden.
Nicht-deutsche Bescheinigungen sind mit deutscher Übersetzung einzureichen. Eintragungen im PQ-Verzeichnis der IHK oder ein EU-Zertifikat gelten als gleichwertiger Eignungsnachweis.
Ausschlussgründe und Sonderbedingungen
Wettbewerb & Angebotsprognose
Erwartete Konkurrenz auf Basis vergleichbarer VergabenAuf einen Blick
Erfüllungsort
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