Zusammenfassung
Automatisch erstellt aus den VergabeunterlagenDas Universitätsklinikum Hamburg-Eppendorf (UKE) beschafft ein vollständig integriertes, automatisiertes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop als schlüsselfertige Lösung. Das Gerät soll 3D-Volumen-Elektronenmikroskopie mittels Serial Block-Face Imaging (SBFI) ermöglichen und den kompletten Workflow von der Bildaufnahme bis zur 3D-Visualisierung abdecken. Kompatibilität mit Dragonfly, Imaris, Matlab und ImageJ ist Pflicht. Zuschlag erhält das preisgünstigste Angebot.
Zeitplan & Fristen
Aus den Vergabeunterlagen extrahiertZuschlagskriterien
Gewichtung laut Vergabeunterlagen- Preis Investitionen (und Wartung)60%
Summe der Investitionskosten (inkl. indikativer Wartung). Bewertung auf Skala 0-15 Punkte: 15 Pkt. = niedrigste Gesamtkosten, 1 Pkt. = 2-fache der niedrigsten Gesamtkosten, lineare Interpolation dazwischen.
- Funktionalitätsbewertung durch die Nutzer40%
Bewertung des angebotenen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops durch die Nutzer auf Basis des eingereichten Angebots und begleitender Unterlagen. Insgesamt bis zu 15 Punkte erreichbar, gewichtet mit Faktor 30.
- Konzepte (Einbringung, Einweisungs- und Schulungsplanung)5%
Konzept zur Einbringung, Einweisungs- und Schulungsplanung für das Bedienpersonal. Bewertet mit 0-15 Punkten gemäß Benotungssystematik, gewichtet mit Faktor 5. Bewertungsrelevante Aspekte: Ablauf der Einbringung, Einlagerung/Verfügbarkeit zum Betriebsbeginn, Ablauf der Einweisungen/Schulungen, Kommunikation und Organisation von Nachschulungen, Bereitstellung von Schulungshilfen. Mindestens zwei Einweisungs-/Schulungsblöcke pro Jahr während der Gewährleistungsfrist.
Preis: 15 Punkte = niedrigste Gesamtkosten, 1 Punkt = 2-fache der niedrigsten Gesamtkosten, 0 Punkte darüber; dazwischen lineare Interpolation auf 2 Nachkommastellen. Punkte je Kriterium werden mit Gewichtungsfaktor multipliziert (Preis x60, Funktionalität x30, Konzepte x5). Max. erreichbare Punkte: Preis 15x60=900, Funktionalität 15x30=450, Konzepte 15x5=75. Summe max. 1425 Punkte. Höchste Gesamtpunktzahl erhält den Zuschlag.
Leistungsumfang
Aus den VergabeunterlagenSystemkern: Elektronenoptik & Bildgebung
Voll integriertes, automatisiertes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop als schlüsselfertige End-to-End-Lösung.
3D-Volumen-Elektronenmikroskopie (SBFI)
3D-Volumen-Elektronenmikroskopie mittels Serial Block-Face Imaging (SBFI).
Detektorsystem & Probenkammer
Detektoren:
Probenkammer:
Vakuumsystem
Steuerung, Software & IT-Anbindung
Kompatibilität zwingend erforderlich mit: Dragonfly, Imaris, Matlab und ImageJ.
Erwartetes Datenaufkommen: ca. 800 TB pro Jahr.
Mitlieferung, Service & Schulung
Im Gesamtpreis enthalten: Mikroskop, Workstation, Akquisitions- und Analysesoftware, Schulung, CE-Konformitätserklärung sowie Zubehör, Kleinteile, Aufbau, Einweisung und Inbetriebnahme inkl. Datenanbindung. Vorrichtung zur Schwingungsdämpfung des Systems.
Schulung/Einweisung:
Mit dem Angebot einzureichen:
Dokumentation & Zertifikate
Lieferung, Aufstellung & Übergabe
Gewährleistung, Wartung & Service nach Zuschlag
Eignungskriterien
Geforderte Nachweise laut VergabeunterlagenBefähigung zur Berufsausübung
Ausschlussgründe & Sanktionen
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
Hamburgisches Vergabegesetz (HmbVgG)
Bietergemeinschaft, Nachunternehmer & Sprache
Mindestens 2 Referenzen über vergleichbare Lieferleistungen (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop)
Mit dem Ausschreibungsgegenstand vergleichbare Leistungen; Auftraggeber berücksichtigt auch einschlägige Liefer-/Dienstleistungen älter als 3 Jahre; Pflichtangaben: Auftragswert (€ ohne USt), Liefer-/Erbringungszeitpunkt, öffentlicher oder privater Empfänger, Ansprechpartner (idealerweise mit Kontaktdaten)