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Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik | Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Ministerium für Wirtschaft, Arbeit und Energie (MWAE)Frankfurt (Oder), BrandenburgVeröffentlicht:
Angebotsfrist:

Zusammenfassung

Beschafft werden Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Integration eines halbautomatischen Wafer Probers für die elektrische und temperaturabhängige Charakterisierung von 200 mm Wafern. Das System soll Gleichstrom- und Pulsmessungen sowie niederfrequente Impedanzmessungen bis 10 MHz unterstützen und an das bestehende Keithley 4200A-SCS Messsystem angebunden werden. Der Umfang schließt Schulung des Bedienpersonals und Integrationsunterstützung ein.

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Zeitplan & Fristen

Die wichtigsten Termine im Überblick
Angebotsfrist: 13. Oktober 2026
  1. Veröffentlicht13. September 2026

    Bekanntmachung und Bereitstellung der Vergabeunterlagen.

  2. Angebotsfrist13. Oktober 2026

    Letzter Termin für die elektronische Angebotsabgabe.

  3. Bindefrist endet11. Dezember 2026

    Bis hierhin sind Sie an Ihr Angebot gebunden (59 Tage). In diesem Zeitraum wird der Zuschlag erteilt.

Zuschlagskriterien

Gewichtung laut Vergabeunterlagen
Preis & Qualität2 Kriterien
Preis 35%Qualität 65%
  • Preis35%

    Gewichtung des Preises: 35%

  • Kriterien (Qualität)65%

    Gewichtung der Kriterien: 65%. Die einzelnen Zuschlagskriterien ergeben sich aus den beigefügten Vergabeunterlagen (Annex 2 - Evaluation criteria.pdf).

KI-Hinweis: Die einzelnen Qualitätskriterien mit ihren Gewichtungen sind in der Anlage 'Annex 2 - Evaluation criteria.pdf' enthalten, die nicht Bestandteil der bereitgestellten Auszüge ist; daher können die Unterkriterien und deren Gewichtungen nicht extrahiert werden.

Leistungsumfang

Halbautomatischer Wafer Prober

Geliefert, aufgestellt, in Betrieb genommen und integriert werden soll ein halbautomatisches Wafer-Prober-System für 200 mm Wafer. Das System muss vollständig funktionsfähig übergeben werden.

Messfunktionen

Das System muss DC- und Pulsmessungen der I-V-Kennlinie sowie niederfrequente Impedanzmessungen bis 10 MHz unterstützen.

Abgeschirmte Messkammer mit Chuck

Enthalten sein sollen eine abgeschirmte Prober-Kammer und ein temperaturgeregelter Chuck mit dem angegebenen Temperaturbereich.

Elektrische Messspitzen

Vorgesehen sind sechs elektrische Kelvin-Messspitzen mit triaxialen FORCE/SENSE-Schnittstellen.

Optik, Kamera, Steuerung und Zubehör

Zum Umfang gehören automatisierte Mikroskop- und Kamerasysteme, ein Schwingungsdämpfungstisch, Hard- und Software zur Steuerung, ein PC mit Displays sowie alle erforderlichen Kabel und Schnittstellen.

Begleitleistungen

Neben der Technik sind Montage, Inbetriebnahme, Integrationsunterstützung, Schulung des Bedienpersonals und technische Dokumentation Teil des Auftrags.

Wettbewerb & Angebotsprognose

Erwartete Konkurrenz auf Basis vergleichbarer Vergaben
1–3Angebote erwartet
Median vergleichbarer Vergaben: rund 2 Angebote
Geringe Konkurrenz
Wahrscheinliche Bieterzahl
1–3 · 90%4–10 · 10%11+ · 0%

Verlauf dieser Vergabe

2 Bekanntmachungen
  1. 03.11.2026Vergabebekanntmachung
  2. 13.09.2026Ausschreibungauf dieser Seite
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Auf einen Blick

Auftraggeber
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik | Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Ministerium für Wirtschaft, Arbeit und Energie (MWAE)
Anschrift
15236 Frankfurt (Oder)
Ort
15236 Frankfurt (Oder)
Kategorie
Brandenburg
Veröffentlicht
Angebotsfrist
Auftraggeber-Website
mwae.brandenburg.de ↗

Erfüllungsort

Ort der Leistung
15236 Frankfurt (Oder)
Brandenburg

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