Zusammenfassung
Automatisch erstellt aus den VergabeunterlagenDas IHP – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik in Frankfurt (Oder) beschafft einen automatischen, umbaubaren Waferprober für 200-mm-Wafer. Das Gerät muss mit dem vorhandenen Advantest V93000 Exa Scale Testsystem kompatibel sein und über zwei Docking-Schnittstellen (9,5"-Pogo-Tower und Direct-Docking) verfügen, zwischen denen ohne grundlegende mechanische Änderungen umgerüstet werden kann.
Die Lieferung umfasst das Komplettsystem inklusive Transport, Installation, Inbetriebnahme, Dokumentation sowie Schulung des Bedienpersonals (u. a. für den Docking-Wechsel). Gefordert sind u. a. CE-Kennzeichnung, mindestens 2 Jahre Garantie, Ersatzteilverfügbarkeit für mindestens 10 Jahre sowie die Einhaltung der EU-Sanktionsvorgaben (kein Russland-Bezug).
Die Wertung erfolgt nach dem wirtschaftlichsten Angebot: 40 % Preis, 60 % technische Kriterien (u. a. Gewicht, Wechsel-Einfachheit zwischen Docking-Konfigurationen, Wafer-/Probecard-Unterstützung, Prüf-/Inspektionsfunktionen, Fernwartung). Nebenangebote sind nicht zugelassen.
Zeitplan & Fristen
Aus den Vergabeunterlagen extrahiertZuschlagskriterien
Gewichtung laut Vergabeunterlagen- Preis40%
Gesamtangebotspreis. Das Angebot mit dem niedrigsten Gesamtangebotspreis erhält 10 Punkte, übrige Angebote proportional.
- Technische/technologische Bewertung60%
Zusammenfassung der technischen Bewertungskriterien des Waferprobers.
Preis: Punkte = (niedrigster Gesamtangebotspreis / zu bewertender Gesamtangebotspreis) × 10. Qualitätskriterien werden auf einer Skala von 0/5/10 Punkten bewertet. Sofern ein Unterkriterium nicht eindeutig einer höheren Bewertungsstufe zugeordnet werden kann, erfolgt die Bewertung in der jeweils niedrigeren Punktestufe.