Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Zusammenfassung
Ein Institut beschafft zwei Lose: ein DualBeam-FIB/REM-System und ein aberrationskorrigiertes 200-kV-Transmissionselektronenmikroskop. Beide Geräte sollen geliefert, installiert, in Betrieb genommen und betriebsbereit übergeben werden, einschließlich Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Sie dienen als zentrale Präparations- und Analyseplattformen für wissenschaftliche Forschungsprojekte sowie für Auftragsanalytik.
Zeitplan & Fristen
Die wichtigsten Termine im Überblick- Veröffentlicht15. Juli 2026
Bekanntmachung und Bereitstellung der Vergabeunterlagen.
- Angebotsfrist17. August 2026
Letzter Termin für die elektronische Angebotsabgabe.
- Bindefrist endet02. November 2026
Bis hierhin sind Sie an Ihr Angebot gebunden (77 Tage). In diesem Zeitraum wird der Zuschlag erteilt.
Leistungsumfang
Los 1: Dual-Beam-FIB/REM-System
Lieferung eines FIB/REM-Systems mit analytischen Detektorsystemen zur präzisen Probenpräparation sowie zur bildgebenden, chemischen und strukturellen Charakterisierung.
Kernfunktionen FIB-System
Zwingend bereitzustellen sind u. a. automatisierter Materialabtrag, TEM-Lamellen- und APT-Spitzenpräparation, korrelierte Echtzeit-Bildgebung, EDX/EBSD-Analytik sowie 3D-Workflows mit Datenexport.
Anwendungsgebiete FIB-System
Einsatz für Batterie- und Elektrodenmaterialien, Wasserstoffspeichermaterialien, katalytische Schichten, Metalle/Legierungen, Keramiken, Halbleiter, Beschichtungen und Multilayer-Systeme.
Los 2: Transmissionselektronenmikroskop
Lieferung eines aberrationskorrigierten 200-kV-S/TEM mit analytischen Detektorsystemen für hochauflösende strukturelle, chemische und elektronische Charakterisierung auf atomarer und nanometergenauer Skala.
Kernfunktionen TEM
Erforderlich sind u. a. TEM/STEM-Abbildung im atomaren Bereich, EDX- und EELS-Analytik, Untersuchung von Grenzflächen und Defekten, magnetfeldarme Abbildung sowie automatisiertes Mess- und Datenmanagement.
Forschungsdatenmanagement für beide Lose
Messdaten und Metadaten sind strukturiert zu erfassen und in nicht-proprietäre Formate exportierbar, um FAIR-Prinzipien zu erfüllen.
Eignungskriterien
Nachforderung von Eignungsnachweisen
Die Vergabestelle kann fehlende Angaben und Erklärungen nachfordern; ohne geforderte oder nachgeforderte Nachweise erfolgt ein Ausschluss nach § 57 Abs. 1 Nr. 2 VgV.
Wettbewerb & Angebotsprognose
Erwartete Konkurrenz auf Basis vergleichbarer VergabenAuf einen Blick
Erfüllungsort
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