DFG Großgerät Rasterkraftmikroskop
Zusammenfassung
Automatisch erstellt aus den VergabeunterlagenDie RPTU Kaiserslautern-Landau kauft im offenen Verfahren ein fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschung und Lehre.
Das Gerät soll Oberflächen und Partikel, Fasern, Membranen, Beschichtungen und biologische Proben hochauflösend untersuchen können – inklusive Kraftspektroskopie, Nanomechanik, Adhäsions- und Reibungsmessungen sowie Messungen an lebenden Zellen in Flüssigkeit.
Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Schulung sind Teil des Auftrags. Budget: rund 550.000 € inkl. MwSt.
Angebote müssen bis 26. Oktober 2026, 09:00 Uhr elektronisch über die Vergabeplattform DTVP eingereicht werden. Wesentliche Eignungsanforderung: mindestens 20 peer-reviewte wissenschaftliche Publikationen aus den letzten fünf Jahren, die auf Messungen mit dem angebotenen oder einem technisch vergleichbaren AFM-System beruhen.
Zeitplan & Fristen
Aus den Vergabeunterlagen extrahiertZuschlagskriterien
Gewichtung laut Vergabeunterlagen- Temperaturbereich25%
Erweiterter Temperaturbereich über die Mindestanforderung hinaus (unter 0 °C und über +250 °C); Skala von 0 (Mindestbereich) bis 25 (≤−40…≥+300 °C).
- Kraft-/Auslenkungsrauschen30%
RMS-Wert des Kraft-/Auslenkungsrauschens in pN RMS bei 1 kHz Messbandbreite; Skala von 0 (≥5 pN) bis 30 (<0,2 pN).
- Thermischer Drift20%
Kennwert der thermischen Drift in nm/K; Skala von 0 (≥2 nm/K) bis 20 (<0,2 nm/K).
- Maximal messbare Kraft30%
Maximal tatsächlich nutzbarer Kraftbereich des Gesamtsystems; Skala von 0 (≤100 nN) bis 30 (>5 µN).
- Kraftspektroskopie40%
Maximale nachgewiesene Kraftkurven-Mappingrate in Kurven/s (höchster Wert in Luft oder Flüssigkeit); Skala von 0 (<50) bis 40 (≥500 Kurven/s).
- High-Speed-Kraftspektroskopie40%
Maximale Kraftkurvenrate in kHz (Off-Resonance); Skala von 0 (<50 kHz) bis 40 (≥500 kHz).
- High-Speed-AFM-Imaging20%
Maximale Bildrate bei 256×256 Pixeln in fps; Skala von 0 (<2 fps) bis 20 (≥20 fps).
- Kontinuierliche Datenerfassung20%
Tatsächlich aufgezeichnete Datenpunkte/s (MS/s); Skala von 0 (<1) bis 20 (≥20 MS/s).
- Off-Resonance-Frequenz über Mindestwert15%
Nutzbare Off-Resonance-Tapping-Frequenz über 80 kHz hinaus; Skala von 0 (80 kHz) bis 15 (≥250 kHz).
- Erweiterte quantitative Nanomechanik25%
Zusätzliche Imaging-/Auswertemodelle über Mindestumfang hinaus; Skala von 0 (Mindestumfang) bis 25 (≥7 zusätzliche Kennwerte/Modelle).
- Automatisierte Flächenkartierung / Tiling20%
Erweiterte automatisierte Flächenmessungen, Tiling/Mapping und reproduzierbare Messworkflows; Skala von 0 (manuell) bis 20 (programmierbare Sequenzen mit Fehler-/Wiederholungslogik).
- Elektrische / multimodale Zusatzfunktionen15%
Zusätzliche elektrische, mechanische oder optische Messmodi über KPFM und C-AFM hinaus; Skala von 0 (Mindestumfang) bis 15 (≥4 zusätzliche Modi).
- Offene Hardware-/Softwarearchitektur20%
Offene API/Scripting-Schnittstellen und externe Steuerbarkeit; Skala von 0 (keine API) bis 20 (vollständige dokumentierte Steuer-/Daten-API mit SDK/Beispielen).
- Garantie über gesetzliche Gewährleistung hinaus30%
Über die gesetzliche Gewährleistung hinausgehende Zusatzgarantie; Skala von 0 (keine) bis 30 (≥36 Monate).
- Ersatzteil- und Zubehörverfügbarkeit30%
Verbindliche Verfügbarkeit von Ersatzteilen und Zubehör in Jahren; Skala von 0 (keine Zusage) bis 30 (≥15 Jahre verbindlich).
- Wartungsfreundlichkeit / transparente Wartungskosten15%
Wartungsarme Konstruktion und transparente, niedrige Wartungskosten; Skala von 0 (unklar/hoch) bis 15 (geringe Intervalle, transparente Pauschalen, anwenderseitige Routinewartung).
Einfache Richtwertmethode: Kennzahl Z = L / P (Leistungspunkte / Angebotspreis), Skalierungsfaktor 10.000, 3 Nachkommastellen. Bei Gleichstand erhält das Angebot mit den höheren Leistungspunkten den Zuschlag.
Leistungsumfang
Aus den VergabeunterlagenLiefergegenstand
Fabrikneues, modular erweiterbares Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope, AFM) als Tischgerät und in Kombination mit einem inversen optischen Mikroskop. Lieferung DAP innerhalb Deutschlands / DDP außerhalb Deutschlands einschließlich Aufstellung, Installation, Inbetriebnahme und Funktionsprüfung. Umfassende Schulung des wissenschaftlichen und technischen Personals ist eingeschlossen. Budget: 550.000 € inkl. MwSt.
Architektur und Scan-Performance
Tip-Scanning-Architektur mit Closed-Loop-Positionierung. Scanbereich mindestens 100 µm × 100 µm in X/Y und 15 µm in Z. Z-Verfahrweg mindestens 150 µm für Kraftspektroskopie. Motorisierte Lateralpositionierung mindestens 10 mm × 10 mm. Volle Motorisierung und Automatisierung des Systems.
Cantilever-Anregung und Messmodi
Zwei unterschiedliche Cantilever-Anregungsverfahren im selben System verfügbar: optisch/photothermisch (in Luft und Flüssigkeiten) sowie piezoakustisch. Off-Resonance-Tapping-Modus mit mindestens 80 kHz. Quantitative Kraft-Weg-Messungen im Pikonewton- bis Nanonewtonbereich, PicoBalance / massenbasierte Messung, quantitative Nanomechanik und Kraftmodulation. Mindest-Messmodi: Kontaktmodus, dynamischer Modus/Tapping, Kraftspektroskopie, quantitativer Imaging-Modus.
Elektrische und Fluid-Funktionalität
Elektrische Charakterisierung über Kelvin-Probe und leitfähige AFM-Messung. Flüssigkeitsbetrieb mit geeigneten Flüssigkeitszellen sowie FluidFM-Funktionalität. Fluoreszenzbeobachtung integriert.
Inkubation und Temperaturregelung
Live-Cell-Inkubation für Langzeitmessungen an lebenden Zellen mit kontrollierbaren Umgebungsparametern. Temperaturregelung mindestens von Umgebungstemperatur bis +250 °C sowie unterhalb der Umgebungstemperatur.
Software, Steuerung und Datenexport
Integrierte Software zur Steuerung, Datenerfassung und Auswertung. Schnittstellen für externe Hardware/Sensoren sowie skriptbasierte Steuerung. Datenexport in wissenschaftlich geeigneten Formaten.
Aufstellung und Umgebungsbedingungen
Schwingungs- und Schallschutz. Erforderliche Energie-, Medien-, Raum- und Umgebungsbedingungen sowie benötigte Schwingungsisolierung, Abmessungen und Gewicht sind anzugeben.
Service und Verfügbarkeit
Angaben zu Wartungsplan (Intervalle, voraussichtliche Kosten), Verfügbarkeit von Ersatzteilen und Zubehör sowie Garantie- und Gewährleistungsbedingungen (mindestens 12 Monate ab Abnahme). Verbindliche Lieferzeit maximal 6 Monate ab Auftragserteilung.
Eignungskriterien
Geforderte Nachweise laut VergabeunterlagenPersönliche und rechtliche Eignung
Eintragung im Handels- bzw. Berufsregister – oder nachweislich nicht eintragungspflichtig. Kein laufendes oder beantragtes Insolvenzverfahren (auch kein bestätigter Insolvenzplan wegen Massearmangel). Keine Liquidation des Unternehmens. Keine schweren Verfehlungen nach § 6 EU VOB/A bzw. VOL/A, die die Zuverlässigkeit in Frage stellen. Kein eintragungsrelevanter Verstoß im Gewerbezentralregister in den letzten zwei Jahren.
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Ordnungsgemäße Erfüllung der Steuer- und Abgabenpflichten sowie der Beiträge zur gesetzlichen Sozialversicherung. Nachweis der Mitgliedschaft in der Berufsgenossenschaft inkl. Mitgliedsnummer. Ab einer Auftragssumme über 30.000 € wird ein Auszug aus dem Gewerbezentralregister nachgefordert. Eigenerklärung zur wirtschaftlichen Leistungsfähigkeit ist einzureichen. Werden Kapazitäten Dritter genutzt, sind Teilleistungen und überlassene Eignung über das Formular VVB 235 offenzulegen.
Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
Nachweis von mindestens 20 wissenschaftlichen Publikationen in peer-reviewten Fachzeitschriften aus den letzten fünf Jahren, die auf Messungen mit dem angebotenen Rasterkraftmikroskop oder einem technisch vergleichbaren System beruhen. Nachweis durch Titel, Autoren, Fachzeitschrift, Erscheinungsjahr und DOI.
Sanktions- und tarifrechtliche Anforderungen
Eigenerklärung EU-RUS Sanktionen ist abzugeben. Sofern Arbeitsleistungen in Deutschland erbracht werden, ist die Mustererklärung 3 zum rheinland-pfälzischen Landestariftreuegesetz (LTTG) inklusive Verpflichtungen zu Mindestentgelt und Nachunternehmerauswahl abzugeben.
Mindestens 20 wissenschaftliche Publikationen in peer-reviewten Fachzeitschriften, die auf Messungen mit dem angebotenen Rasterkraftmikroskop oder einem technisch vergleichbaren System beruhen
Nachweis durch Titel, Autoren, Fachzeitschrift, Erscheinungsjahr und DOI; gilt für das einzige Los
Wettbewerb & Angebotsprognose
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